1.自動(dòng)凝點(diǎn)、傾點(diǎn)測(cè)定儀QY-DRT-1117A自動(dòng)凝點(diǎn)、傾點(diǎn)測(cè)定儀QY-DRT-1117A

本儀器以家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 510、GB/T 3535-2008為依據(jù)，采用多個(gè)單片機(jī)組成的主控件，自動(dòng)制冷、 自動(dòng)恒溫、自動(dòng)檢測(cè)，并自動(dòng)打印輸出結(jié)果， 可自動(dòng)成石油產(chǎn)品傾點(diǎn)/凝點(diǎn)的測(cè)試， 本儀器采用的液面檢測(cè)可檢測(cè)到液面的微小變化，德丹佛斯口壓縮機(jī)制冷系統(tǒng)確保達(dá)到要求的制冷深度。不易損壞。采用干式阱形冷浴箱，滯后性小、降溫快，不需要其它冷卻介質(zhì)，方便使用和維護(hù)。采用性能紅外線檢測(cè)，檢測(cè)靈敏度，可靠性強(qiáng)。

本儀器結(jié)構(gòu)合理，性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)單，是理想的分析檢測(cè)設(shè)備。

產(chǎn)品用途：用于深色石油產(chǎn)品、原油及其他透明或半透明石油產(chǎn)品產(chǎn)品傾點(diǎn)、凝點(diǎn)分析。
二、符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 3535-2006  GB/T510
三、參數(shù)：
1、測(cè)溫范圍：-40～60℃；分辨率 0.1℃和-68～60℃；分辨率 0.1℃

3、測(cè)試樣品數(shù)：2路，分別傾斜。

4、測(cè)溫元件：PT100(德JUMO公司測(cè)溫傳感器)

5、檢測(cè)方式：上置式光電液面檢測(cè)器試樣自動(dòng)傾斜(美口紅外檢測(cè)器)

6、制冷方式：?jiǎn)螇嚎s機(jī)制冷（法DANFOS）

7、檢測(cè)間隔：由用戶設(shè)定（1～10℃）

8、冷卻方式：風(fēng)冷（干式阱形冷浴箱）

9、 打    印：20列漢字點(diǎn)陣打印，儀器內(nèi)置微型熱敏打印機(jī)，其打印更安靜、快速、清晰。實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以自動(dòng)打印。

10、顯    示：7寸彩色液晶觸摸屏，圖文顯示細(xì)膩無(wú)鋸齒，顏色艷麗，顯示分辨率；塑料注塑的體化顯示屏面框美觀大方；中文操作界面，顯示直觀。同時(shí)，具備限管理能，有效避免非業(yè)人員對(duì)本測(cè)定儀關(guān)鍵參數(shù)行設(shè)定。

11、環(huán)境溫度：10～35℃

12、環(huán)境濕度：30%～80% RH

13、電    源：AC220士10％V 50Hz士2Hz       率：小于 1500kw
四、 主要點(diǎn)：
1、該儀器采用分體式結(jié)構(gòu)，*消除震動(dòng)對(duì)絮狀物的破壞及對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響。

2、該儀器配備的上置式光電液面檢測(cè)器可檢測(cè)到試樣傾斜時(shí)水平液面的微弱變化，凝點(diǎn)/傾點(diǎn)判斷。

3、該儀器采用了微傾斜，在緩慢傾斜的過(guò)程中，旦檢測(cè)到液面有移動(dòng)，立刻停止傾斜，恢復(fù)垂直狀態(tài)，而不在多次傾斜后將試管取出行加熱。

4、自動(dòng)控制，冷卻介質(zhì)與被測(cè)試樣的溫差，保證降溫速度受控且均勻穩(wěn)定。

5、內(nèi)置微型加熱器使試樣快速升溫，而不將冷卻介質(zhì)的溫度加熱的過(guò)。

6、內(nèi)RS-232C 標(biāo)準(zhǔn)接口電路，可與PC機(jī)連接；也可以連接LIMS系統(tǒng)

2.半導(dǎo)電橡塑材料電阻溫測(cè)試架/電阻溫測(cè)試架 型號(hào)：HHY8-DB-4/DB-5

測(cè)試架是與本公司的HHY8-DB-4型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀的配套產(chǎn)品。HHY8-DB-4儀器是檢測(cè)半導(dǎo)電橡塑材料在23°C時(shí)的電阻率值，配上本測(cè)試架后可以擴(kuò)展能，將本測(cè)試架放入烘箱，可以檢測(cè)該材料在0~180°C溫下，電阻率變化值。

本測(cè)試架有以下點(diǎn)：

1、  性能符合標(biāo)GB3048.3要求，具有標(biāo)準(zhǔn)尺寸的電電、電壓電，及加壓系統(tǒng)，樣品盒緣強(qiáng)度大于10¹²Ω。

2、   投資少具有標(biāo)準(zhǔn)接口，能與HHY8-DB-4型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻儀配套使用，能滿足新老用戶的要求，凡以前已購(gòu)買(mǎi)了HHY8-DB-4儀器的用戶不再買(mǎi)儀器烘箱了，應(yīng)用原有儀器設(shè)備省錢(qián)省事。

3、   作可靠，作溫度范圍大采用強(qiáng)度緣耐溫材料制成放入烘箱，可以從0~180°C連續(xù)長(zhǎng)期作，為研究分子材料在90~120°C乃至180°C溫條件的電阻率變化，提供了有力保障。

4、   操作簡(jiǎn)單，使用方便，壽命長(zhǎng)。

附注：HHY8-DB型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀于1985年通過(guò)鑒定，是依照標(biāo)GB3048.3-83的要求行的，在20多年運(yùn)用中，儀器幾經(jīng)改，又有200多家電纜廠、粒廠、研究所、大學(xué)購(gòu)買(mǎi)了本儀器，經(jīng)過(guò)漫長(zhǎng)歲月的考核使用后，實(shí)踐充分證明本儀器，測(cè)量度，性能穩(wěn)定可靠，使用操作方便，是內(nèi)*符合GB3048.3要求的儀器，深受內(nèi)外各交聯(lián)電纜廠，分子材料廠，半導(dǎo)電橡膠廠，校研究所的歡迎，是半導(dǎo)電材料體電阻率性能研究時(shí)的儀器設(shè)備

3.電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀 型號(hào)：HHY8-DB-4

HHY8-DB-4電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀是根據(jù)家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3—94研究成的測(cè)量設(shè)備，主要用于測(cè)量電纜用橡膠和塑料半導(dǎo)電材料中間試樣電阻率以及各種導(dǎo)電橡塑產(chǎn)品電阻，若換上殊的四端子測(cè)試夾，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體材料及產(chǎn)品的低、中值電阻行測(cè)量

經(jīng)過(guò)了十多年的實(shí)際運(yùn)行，近百家主要電纜廠和半導(dǎo)電屏蔽材料廠均已采用了該儀器，它是目前*符合家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3-94的測(cè)量半導(dǎo)電橡塑材料電阻率的儀器。

   儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu)，主要由電氣箱、測(cè)試架兩大分組成，固定在用作臺(tái)上，電氣箱包括靈敏的直數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的直恒源，測(cè)量結(jié)果采用LED數(shù)字直接顯示，測(cè)量電輸出也采用LED數(shù)字顯示，從0—100mA范圍內(nèi)可意調(diào)節(jié)，可達(dá)到控制測(cè)試率損耗的規(guī)定，儀器測(cè)試架由電、壓力探頭、樣品臺(tái)及電動(dòng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)組成，操作按鍵電鈕，可行半自動(dòng)測(cè)量。

   儀器具有測(cè)量度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點(diǎn)，符合際和家標(biāo)準(zhǔn)的要求。

   儀器適用于電纜廠、導(dǎo)電橡塑材料廠、計(jì)算機(jī)廠、電子表廠、等院校、研究等，對(duì)于導(dǎo)電橡塑材料及產(chǎn)品的電阻性能測(cè)試、檢測(cè)，是需的測(cè)試設(shè)備。

   儀器主要標(biāo)：                                                           

、 測(cè)量范圍：10^-4--10³Ω-cm可擴(kuò)展到10⁵Ω-cm；分辯率10^-6Ω-cm

二、 數(shù)字電壓表：

1．  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測(cè)量誤差  0.2mA檔±(0.5%讀數(shù)+8字)；2mV—2V擋±(0.5%讀數(shù)+2字)

3．  顯示3 1/2 位數(shù)字顯示0—1999具有性和過(guò)載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。

三、 恒源：

1．  電輸出：直電0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交電源供給，數(shù)字顯示

2．  量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3．  電誤差：±(0.5%讀數(shù)+2字)

四、 測(cè)量電：

1．  電電：寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm，兩個(gè)電電間的距離110mm

2．  電位電：寬度50mm，接觸半徑，兩個(gè)電位電間的距離20mm±2%

  五、電源：220±10%   50HZ或60HZ 率消耗<50W

六、外形尺寸（包括測(cè)試作臺(tái)）1200×600×1050mm（長(zhǎng)×寬×)

4.二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀　型號(hào)：HHY8-GL-1

本儀器主要用于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和。

    為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，別是計(jì)算機(jī)芯片、內(nèi)存的發(fā)展，越來(lái)越多的使用到了大直徑、純度、均勻度更的單晶硅材料。目前，在美、德等的業(yè)家，均采用了二探針?lè)ǎ褂枚结槞z測(cè)儀來(lái)測(cè)量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測(cè)量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn)，是種新型的半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀，適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針?lè)y(cè)量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率，從而步判斷半導(dǎo)體材料的性能，導(dǎo)和監(jiān)視操作，也可以用來(lái)測(cè)量金屬材料的電阻，儀器具有測(cè)量度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、型美觀等點(diǎn)。也可以配四探針測(cè)試頭作常規(guī)的四探針?lè)y(cè)量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測(cè)試臺(tái)、探頭三分，儀表電氣控制箱由靈敏度直數(shù)字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩(wěn)定度恒源和電氣控制分組成。測(cè)量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示，零位穩(wěn)定、輸入阻抗，并設(shè)有自校能。在棒狀材料使用二探針?lè)y(cè)試時(shí)，具有系數(shù)修正能，從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù)，可以直接讀出電阻率，使用方便。測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)新穎，型美觀，可以方便地固定好大小意尺寸的樣品，并可以作逐點(diǎn)選擇步測(cè)量，也可以自由選擇固定位置測(cè)量，電活動(dòng)自如，具備鎖定裝置，方便重復(fù)測(cè)量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅，測(cè)試探頭能自動(dòng)升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測(cè)量度、游移率小、耐磨、使用壽命長(zhǎng)點(diǎn)。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調(diào)整，以適合不同的材料。

儀器主要標(biāo)：

1.可測(cè)硅材料尺寸：

     直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。

     長(zhǎng)度：100~1100mm.

2.測(cè)量方式：軸向測(cè)量，每隔10mm測(cè)量點(diǎn)。

3.測(cè)量電阻率范圍：10^-3~10³Ω-cm,可擴(kuò)展到10⁵Ω-cm。

4.數(shù)字電壓表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）測(cè)量誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

    （3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>10⁶Ω

                  20mV檔及以上>10⁸Ω

    （4）顯    示：3^1/2位LED數(shù)字顯示，范圍0~1999。

5.恒源：

    （1）電輸出：直電0~100mA連續(xù)可調(diào)。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）電誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

6.二探針測(cè)試裝置：

    （1）探針間距：4.77mm

    （2）探針機(jī)械游移率：0.3%

    （3）探針壓力：0~2kg可調(diào)

    （4）測(cè)試探頭自動(dòng)升降

7.二探針測(cè)試臺(tái)

    （1）測(cè)試硅單長(zhǎng)度：100-1100mm

    （2）測(cè)試點(diǎn)間距：10mm

    （3）測(cè)試臺(tái)有慢、快二種移動(dòng)速度，快速移動(dòng)速度為1000mm/分（均勻

手動(dòng)）

8.電源：交220V±10%，50HZ±2HZ，消耗率<150W

5.數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針檢測(cè)儀　型號(hào)：HHY8-SZT-2000

HHY8-SZT-2000型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研究成的多用途的綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量棒狀、塊狀

半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻行測(cè)量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm量程范圍檢測(cè)硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測(cè)的需儀器。

儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測(cè)試架兩大分，用戶可以根據(jù)測(cè)試需要安放在般作臺(tái)或者用作臺(tái)上，測(cè)試架由探頭及壓力傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、樣品架組成，耐磨和使用壽命長(zhǎng)的點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測(cè)試架設(shè)有手動(dòng)和電動(dòng)兩種裝置供用戶選購(gòu)。

儀器電氣箱主要由靈敏的直數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的恒源組成，測(cè)量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對(duì)儀器的電氣性能行校驗(yàn)。

儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、測(cè)量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點(diǎn)，儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、研究、等院校，對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試及檢測(cè)。

儀器主要標(biāo)：

1．  范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴(kuò)展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

         方塊電阻10^-3—10³Ω /□

         電阻10^-6—10⁵Ω

2．  可測(cè)半導(dǎo)體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．  測(cè)量方式：軸向、斷面均可（手動(dòng)測(cè)試架）

4．  數(shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測(cè)量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）

              2 mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

              20mV檔以上>10⁸Ω

  (4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999

具有性和過(guò)載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示

5．  恒源：（1）電輸出：直電0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交電源供給

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   （3）電誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）

6．四探針測(cè)試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機(jī)械游率：±0.3%

                   (3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調(diào)

  7. 測(cè)試架：

  （1）手動(dòng)測(cè)試架：探頭上升及下降由手動(dòng)操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測(cè)試。

  （2）電動(dòng)測(cè)試架：探頭的上升和下降由電動(dòng)操作，設(shè)有自動(dòng)控制器控制，探頭上升時(shí)間1S—99S可調(diào)，探頭下降時(shí)間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)（由砝碼來(lái)設(shè)定）同時(shí)設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開(kāi)關(guān)控制探頭上下運(yùn)動(dòng)。

   8.電：220V±10% 50HZ或60HZ：率消耗<35W

9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對(duì)應(yīng)的